1、增強耐用度
IC測試bai冶具測試針設(shè)計使彈簧空間比du傳統(tǒng)探針zhi要大，因而可以達(dá)到更長的壽命和dao容納更強的彈力。
　　
2、獨有的永不間斷電接觸設(shè)計
行程超過或不足2/3其電性接觸皆能保持性低阻值，徹底消除任何因探針導(dǎo)致的假性開路誤叛。
　　
3、至目標(biāo)測點精準(zhǔn)度誤差更嚴(yán)謹(jǐn)
IC測試冶具的測試針能達(dá)到同類型產(chǎn)品無法比擬的至目標(biāo)測點精準(zhǔn)度。
　　
IC測試冶具通用性高，只需更換顆粒限位框，即可測試尺寸不同的顆粒；采用超短進(jìn)口雙頭探針設(shè)計，相比同類測試產(chǎn)品，可使IC和PCB之間的數(shù)據(jù)傳輸距離更短，從而保證測試結(jié)果更穩(wěn)定，頻率更高，DDR3系列最高頻率可達(dá)2000MHz。