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IC芯片測試治具選擇探針需要考慮哪些因素？
IC芯片的測試同ICT/FCT測試一樣，也是有治具，只不過區分開來叫IC SOCKETS，設計上也更精密，治具精準度高，功能穩定，使用的探針是非常高質量的，那么IC SOCKETS選擇探針需要考慮哪些因素呢？
1、探針的質量
探針的質量是非常重要的一點，現在國內一些廠商也可以做半導體測試探針，但是工藝不達標，做出來的產品非常差，通常考慮歐美進口或者韓國一些廠商的產品，減少探針出現問題對測試產生的影響。
2、探針型號是否匹配socket
IC芯片測試有多種形式，所以不同形式的封裝選擇的探針規格是不同的，所以為了保證探針是符合需求的，需要認證選配符合需求的探針的型號，保證測試的順利完成。
探針在IC測試中非常重要的一個部件，所以在選用和購買探針的時候要多加注意，才能保證最后測試的完美進行。
ICT探針的組成結構
常用的測試探針是由針頭、外管和彈簧三個組件構成，由于探針在應用中十分注重它的導電性、持久性和硬度等特性的強弱，所以在制造過程中電鍍是非常重要的一環。在組裝之前要對這些部分做特殊的電鍍處理，這樣才能組裝出一根電學參數達標的探針。
對于探針的鍍金也是有講究的，針管的整個部分都是需要鍍金的，包括內壁和外壁。內壁和外壁全部鍍金，才算是完成了針管的鍍金。由于成本的原因很多廠家不會對彈簧做電鍍，但是有高需求的的話，彈簧也需要進行電鍍。
另一方面，探針也需要能夠滿足耐磨損和低阻抗的特性，所以在選用基礎材料的時候，針頭往往都是鈹銅或者SK-4，針管是用磷銅，彈簧采用琴鋼線，所有的材料表面鍍金。
測試用探針的參數指標有哪些？
探針作為PCB測試或者半導體測試比較重要的部件，本身的機械性能和電氣性能非常的重要，探針的好壞完全取決于這兩個指標。機械性能主要是彈簧的彈力，彈力通常的范圍在標注彈力的上下10%，比如1N的彈力，做出來的探針可能是0.9N這樣，如果公差范圍太大大，在測試中可能損傷PCB或者接觸不良，使得接觸電阻異常。
然后就是電子性能，上面說到的接觸阻抗是非常重要的一點，理論上阻抗越小越好，但是由于自然界中不可能出現零電阻的材質，所以接觸阻抗要在測試的時候保持穩定即可，通常和阻抗相關的因素主要有以下幾點：
1、針頭、外管和彈簧的材料；
2、外管的直徑和針頭直徑的差值；
3、鍍金層的厚度。
測試探針內部阻值的研究
探針保持低而穩定的電阻值對彈簧探針的設計至關重要。彈簧探針所有零件的設計都對阻值有很大的影響。零件的外形、基材、電鍍、表面粗糙度、彈簧彈力等等都會影響接觸電阻。金屬材料的阻值容易計算。然而，計算出金屬與金屬之間，精確的接觸電阻會比較困難。通常在彈簧探針中，會有三個以上的接觸點。（芯片觸點和上測試針頭之測試針頭和套管之間，以及下測試針頭和電路板觸點之間,
我們可以測量彈簧探針的阻值，也可以只測量上測試針端和下測試針端之間的整體阻值。整體的阻值會涵蓋所有的內部接觸電阻。
測試探針需要多久更換一次？
測試探針是ICT/FCT測試針、BGA探針、高頻探針、高電流探針的統一的叫法，無論什么探針都會有自己的壽命，探針的圖冊上一般都有自己的壽命，這個主要取決于彈簧的壽命。那么影響測試探針壽命的因素都有哪些呢？這里筆者為大家簡要介紹一下，影響測試探針壽命的因素。
先說常規ICT/FCT探針，這類探針通常壽命在30萬次左右，但是壽命往往都是由測試環境決定的，如果測試環境比較差，各種雜質進入探針內管，就會造成彈簧損壞，這樣就必須要更換探針。這種是小部分更換，還有一種是定期對探針進行更換，當使用到一定的時間后，探針就必須要更換。如果是高頻探針的話，這個比較特殊，高頻探針主要在于高頻針的內芯針，所以高頻探針更換一般都是將內芯針進行更換，這樣可大大降低成本。
正常情況下，越細的探針相對來說就越短，所以正常探針的壽命都是接近于廠商給出的理論壽命。對治具維護保養做的好，以及治具測試的板子的清潔度高，按照探針規定的行程進行測試，這樣探針的更換頻次就低。
IC測試針在測試冶具中有什么作用？
1、增強耐用度
IC測試bai冶具測試針設計使彈簧空間比du傳統探針zhi要大，因而可以達到更長的壽命和dao容納更強的彈力。
2、獨有的永不間斷電接觸設計
行程超過或不足2/3其電性接觸皆能保持性低阻值，徹底消除任何因探針導致的假性開路誤叛。
3、至目標測點精準度誤差更嚴謹
IC測試冶具的測試針能達到同類型產品無法比擬的至目標測點精準度。
IC測試冶具通用性高，只需更換顆粒限位框，即可測試尺寸不同的顆粒；采用超短進口雙頭探針設計，相比同類測試產品，可使IC和PCB之間的數據傳輸距離更短，從而保證測試結果更穩定，頻率更高，DDR3系列最高頻率可達2000MHz。
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